Test delle interfacce digitali ad alta velocità, test USB

USB – Universal Serial Bus

Verifica e debug efficiente dei progetti con interfacce USB

L’interfaccia USB è utilizzata per collegare computer e dispositivi periferici. La richiesta di una maggiore velocità di trasmissione dei dati e della possibilità di ricaricare i dispositivi connessi più rapidamente, unita all’integrazione delle tecnologie Thunderbolt e DisplayPort, sono al centro dell'evoluzione degli standard definiti da USB Implementers Forum (USB-IF).

Rohde & Schwarz lavora a stretto contatto con l'associazione USB-IF per fornire potenti soluzioni di misura per effettuare i test sulle interfacce USB, i circuiti stampati, i cavi e connettori, compresi quelli sulla capacità di erogazione della potenza. Le nostre soluzioni di misura e collaudo vi aiutano verificare in modo efficiente i progetti a livello di sistema e ad eseguirne il debugging, affinché i vostri prodotti possano essere introdotti sul mercato più rapidamente.

Contattaci

Webinar

Webinar: Test di conformità elettrica USB 3.2

Test di conformità elettrica USB 3.2

Questo webinar è destinato ai tecnici che lavorano alla progettazione e al test dei segnali digitali ad alta velocità.

Maggiori informazioni

Misure di conformità USB 3.2

Misure di conformità USB 3.2

Questo webinar è destinato ai tecnici che lavorano alla progettazione e al test dei segnali digitali ad alta velocità. In particolare, ci concentreremo sulle interfacce USB. Dopo una rapida introduzione alla tecnologia USB, discuteremo i dettagli dei test di conformità USB 2.0 e 3.2. Il webinar vi permetterà di conoscere i problemi più comuni di integrità del segnale e vi guiderà attraverso le relative sfide.

Maggiori informazioni

Test di conformità e debug dell'integrità del segnale delle interfacce USB 3.2

Test di conformità e debug dell'integrità del segnale delle interfacce USB 3.2

Questo webinar è destinato ai tecnici che lavorano alla progettazione e al test dei segnali digitali ad alta velocità. In particolare, ci occuperemo delle interfacce USB. Inizieremo con un'introduzione allo scopo, alla tecnologia e ai diversi standard e applicazioni di questa interfaccia digitale. Sfide da affrontare, specifiche da rispettare e procedure di test aprono il nucleo centrale di test e misura del webinar.

Maggiori informazioni

Test di conformità fallito
Test di conformità fallito
/

Test di conformità fallito. E adesso?

I test di conformità vengono eseguiti su interfacce dati seriali come USB, HDMI e PCI Express per garantire l'interoperabilità tra dispositivi elettronici e accessori. Nei casi in cui si riscontrano problemi di integrità del segnale, l'oscilloscopio R&S®RTP supporta l'analisi delle cause principali fornendo strumenti potenti come i diagrammi a occhio, la separazione del jitter e del rumore, nonché la riflettometria nel dominio del tempo.

Scarica ora
Oscilloscopio ad alte prestazioni R&S®RTP164
Oscilloscopio ad alte prestazioni R&S®RTP164
/

Rohde & Schwarz ed Eurofins Digital Testing offrono un kit di test avanzato per facilitare l'esecuzione delle prove di conformità sulle interfacce ad alta velocità

L'evoluzione delle tecnologie di comunicazione ad alta velocità ha fatto crescere la richiesta di test di conformità e compatibilità, che devono rispettare un numero sempre più numeroso di standard industriali. Rohde & Schwarz collabora con Eurofins Digital Testing nello sviluppo di un kit che facilita l'esecuzione delle prove di conformità e l'analisi dei segnali ad alta velocità con l'oscilloscopio ad alte prestazioni R&S®RTP164. Eurofins Digital Testing ha anche in programma di fornire servizi di certificazione per tecnologie di comunicazione ad alta velocità come USB. Per maggiori informazioni, leggete il nostro volantino.

Scarica il volantino
Documenti MOI
Method of Implementation (MOI) USB Type-C to Legacy Adapter Assembly Compliances Tests

Method of Implementation (MOI) USB Type-C to Legacy Adapter Assembly Compliances Tests

This application note describes Methods of Implementation (MOI) for precise, fast, and error-free compliance testing of USB Type-C to legacy adapter assemblies supporting USB3.1 Gen1, and USB2.0. Based on 5 Gbps signaling per lane with vector network analyzers from Rohde & Schwarz.

More information

Method of Implementation (MOI) USB Type-C to Legacy Cable Assembly Compliance Tests

Method of Implementation (MOI) USB Type-C to Legacy Cable Assembly Compliance Tests

This application note describes Methods of Implementation (MOI) for precise, fast, and error-free compliance testing of USB Type-C to legacy cable assemblies supporting USB3.1 Gen2, USB3.1 Gen1, and USB2.0. Based on 5 Gbps signaling per lane with vector network analyzers from Rohde & Schwarz..

More information

Metodo di implementazione (MOI) per il test del cavo USB 3.2 legacy

Metodo di implementazione (MOI) per il test del cavo USB 3.2 legacy

Questa nota applicativa descrive i metodi di implementazione (MOI) per effettuare test di conformità precisi, rapidi e privi di errori sui cavi legacy USB 3.2 per i tipi di connettore della famiglia USB Type A, Type B e Micro. Basata sulla segnalazione a 5 Gbps e 10 Gbps per corsia con analizzatori di reti vettoriali di Rohde & Schwarz.

Maggiori informazioni

Method of Implementation (MOI) for USB Type-C to Type-C Cable Assembly Compliance Tests

Method of Implementation (MOI) for USB Type-C to Type-C Cable Assembly Compliance Tests

This application note describes Methods of Implementation (MOI) for precise, fast, and error-free compliance testing of USB Type-C to Type-C cable assemblies supporting USB4 Gen3, USB4 Gen2, USB 3.2 Gen2, USB3.2 Gen1, and USB2.0.

More information

Documenti correlati
De-embedding in tempo reale con l'oscilloscopio R&S®RTP

De-embedding in tempo reale con l'oscilloscopio R&S®RTP

Il de-embedding dei cavi e delle attrezzature di test è una tecnica molto importante per effettuare misure corrette sulle interfacce USB. Equipaggiato con l’opzione R&S®RTP-K122, l'oscilloscopio R&S®RTP offre la funzione de-embedding in tempo reale per misurare ed eseguire il trigger su segnali con de-embedding in tempo reale.

Maggiori informazioni

Ottimizzazione di misure differenziali su interfacce ad alta velocità

Ottimizzazione di misure differenziali su interfacce ad alta velocità

Il sistema di sonde modulari R&S®RT-ZM permette di effettuare misure in modalità differenziale e di modo comune, nonché misure riferite a massa (single-ended). La connessione a massa impedisce al circuito di fluttuare e garantisce segnali stabili e riproducibili.

Maggiori informazioni

Confronto tra le misure di jitter nel dominio del tempo e della frequenza

Confronto tra le misure di jitter nel dominio del tempo e della frequenza

Il jitter può essere misurato nei domini del tempo e della frequenza. Mentre le misure di TIE (Time Interval Error) effettuate con l'oscilloscopio consentono di valutare tutti i tipi di jitter, le misure di jitter basate su un analizzatore di rumore di fase sono limitate ai segnali di clock, ma offrono una sensibilità di jitter senza rivali.

Maggiori informazioni

Misure precise su schede digitali ad alta velocità con l'analizzatore R&S®ZNB

Misure precise su schede digitali ad alta velocità con l'analizzatore R&S®ZNB

Equipaggiato con l’opzione per le misure estese nel dominio del tempo R&S®ZNB-K20, l'analizzatore R&S®ZNB permette di effettuare test accurati sul diagramma a occhio, tempi di salita, disallineamento, ecc. su strutture di segnali digitali ad alta velocità. Ulteriori strumenti di de-embedding possono essere installati per rimuovere gli effetti delle connessioni di ingresso e di uscita.

Maggiori informazioni

Analisi del jitter con l’oscilloscopio R&S®RTO

Analisi del jitter con l’oscilloscopio R&S®RTO

Il jitter è un problema fondamentale per l’analisi dell'integrità del segnale. Con le opzioni R&S®RTP-K12 e R&S®RTO-K12, gli oscilloscopi Rohde & Schwarz possono misurare il jitter TIE, il jitter del periodo, il jitter tra ciclo e ciclo, ecc. e offrono la possibilità di visualizzare i risultati secondo varie modalità, come ad esempio istogramma, spettro o traccia del jitter.

Maggiori informazioni

Video correlati
Signal integrity debugging

Debugging dell’integrità del segnale su un dispositivo USB 3.1 con R&S®RTP

Misure con diagrammi a occhio su un dispositivo USB 3.1 Gen1 con l'oscilloscopio R&S®RTP, compresi i test con maschera e le misure sui parametri dell'occhio, come altezza e larghezza e l’istogramma di jitter.

USB 3.1 interface debug with realtime deembedding

Debugging dell’interfaccia USB 3.1 Gen1 con de-embedding in tempo reale

Misure di integrità del segnale su un dispositivo USB 3.1 Gen1. Con l’opzione R&S®RTP-K122, l'oscilloscopio R&S®RTP offre la funzione di de-embedding in tempo reale per misurare e far scattare il trigger su segnali con de-embedding in tempo reale.

Realtime deembedding

De-embedding in tempo reale con l'oscilloscopio R&S®RTP

De-embedding in tempo reale di un percorso di segnale con l’opzione R&S®RTP-K122. L'oscilloscopio R&S®RTP non solo acquisisce forme d’onda con de-embedding, ma consente anche di impostare il trigger su questo segnale con de-embedding.

Signal integrity measurements with jitter analysis

Analisi del jitter con R&S®RTO

Misura del jitter TIE con l’opzione R&S®RTO-K12. Analisi del jitter TIE (Time Interval Error) di un segnale di clock in modalità statistica, tracciatura, istogramma e vista dello spettro per rilevare disturbi sul clock.

Signal Integrity Measurements

Analisi dell’integrità dei segnali su un cavo USB-C con R&S®ZNA

In combinazione con l’opzione per la misura nel dominio del tempo R&S®ZNA-K2 e l’opzione per le misure estese nel dominio del tempo R&S®ZNA-K20, l'analizzatore di segnali vettoriali R&S®ZNA offre una varietà di misure di integrità del segnale. Il dispositivo in prova, un cavo USB-C, viene analizzato nel dominio del tempo e della frequenza, oltre che con la rappresentazione con diagramma a occhio.

Eye diagram analysis with the R&S®ZNB: introduction

Analisi del diagramma a occhio con R&S®ZNB: introduzione

Misure del diagramma a occhio e test con maschere a occhio con l’opzione per le analisi estese nel dominio del tempo R&S®ZNB-K20. Questa opzione può essere utilizzata per analizzare jitter e rumore, nonché per applicare enfasi ed equalizzazione sul diagramma a occhio misurato.

Eye diagram analysis with the R&S®ZNB: how to set up the measurements

Analisi del diagramma a occhio con R&S®ZNB: come impostare le misure

Misure del diagramma a occhio e test con maschere a occhio con l’opzione per le analisi estese nel dominio del tempo R&S®ZNB-K20. Questa opzione può essere utilizzata per analizzare jitter e rumore, nonché per applicare enfasi ed equalizzazione sul diagramma a occhio misurato.

Signal integrity testing on differential signal structures with the R&S®ZNB

Test di integrità del segnale su strutture di segnali differenziali con l'analizzatore R&S®ZNB

Misura di tempo di salita, impedenza, disallineamento temporale (skew) tra i segnali di una coppia e tra le coppie, ecc. con l’opzione per l'analisi estesa nel dominio del tempo R&S®ZNB-K20.

Application video USB compliance measruements video 01 screen

Misure di conformità USB 2.0: 1/3 - Comprensione della struttura ad albero USB di un PC: presentazione

Comprensione della struttura ad albero USB, dell’ID fornitore (VID) e dell’ID prodotto (PID) di un PC utilizzando strumenti quali USB Device Tree Viewer o Gestione dispositivi di Windows.

Application video USB compliance measruements video 02 screen

Misure di conformità USB 2.0: 2/3 - Comprensione della struttura ad albero USB di un PC: dimostrazione pratica

Comprensione della struttura ad albero USB, dell’ID fornitore (VID) e dell’ID prodotto (PID) di un PC utilizzando strumenti quali USB Device Tree Viewer o Gestione dispositivi di Windows.

Application video USB compliance measruements video 03 screen

Misure di conformità USB 2.0: 3/3 - R&S®ScopeSuite

Misure di conformità di un dispositivo USB 2.0 con R&S®RTO. Automazione dei test con l’opzione R&S®RTO-K21 (R&S®ScopeSuite)

Argomenti correlati
DDR
DDR – memoria a doppia velocità dati

Maggiori informazioni

PCIe
PCIe – Peripheral Component Interconnect express

Maggiori informazioni

Automotive Ethernet e altre soluzioni per sistemi a bus
Automotive Ethernet e altre soluzioni per sistemi a bus

Maggiori informazioni

Test di progetti digitali
Test di progetti digitali

Maggiori informazioni

Request information

Do you have questions or need additional information? Simply fill out this form and we will get right back to you.

Autorizzazione al marketing

La tua richiesta è stata ricevuta. Ti ricontatteremo a breve.
An error is occurred, please try it again later.